簡易檢索 / 檢索結果

  • 檢索結果:共1筆資料 檢索策略: "資料探勘".ckeyword (精準) and ckeyword.raw="晶圓測試"


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    運用資料探勘技術於半導體測試業的測試時間預測
    • 資訊管理系 /99/ 碩士
    • 研究生: 張志堅 指導教授: 余尚武
    • 對晶圓測試的業者而言“時間就是金錢”。隨著測試時間的合理預測,公司可以防止利潤損失。測試時間一直是晶圓測試中一個重要的因素,目前有很多的系統或模式在研究如何預測晶圓良率,但是還沒有系統或模式針對晶圓…
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    • 全文公開日期 2016/01/24 (校內網路)
    • 全文公開日期 本全文未授權公開 (校外網路)
    • 全文公開日期 本全文未授權公開 (國家圖書館:臺灣博碩士論文系統)
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